
上QQ阅读APP看书,第一时间看更新
参考文献
[1]施敏,伍国钰.半导体器件物理 [M].3版.耿莉,张瑞智,译.西安:西安交通大学出版社,2013.
[2]斯蒂芬·A.坎贝尔.微电子制造科学原理与工程技术 [M].2版.曾莹,译.北京:电子工业出版社,2003.
[3]IRIN J C.Resistivity of Bulk Silicon and Diffused Layers in Silicon [J].Bell Syst.Tech.,1962,41(2):387-410.
[1]施敏,伍国钰.半导体器件物理 [M].3版.耿莉,张瑞智,译.西安:西安交通大学出版社,2013.
[2]斯蒂芬·A.坎贝尔.微电子制造科学原理与工程技术 [M].2版.曾莹,译.北京:电子工业出版社,2003.
[3]IRIN J C.Resistivity of Bulk Silicon and Diffused Layers in Silicon [J].Bell Syst.Tech.,1962,41(2):387-410.